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恩慈电子为你介绍涂层测厚仪原理及使用注意

时间:2014-12-03      阅读:879

涂层测厚仪原理: 

1、磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。 
2、涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

涂层测厚仪使用注重事项:

    由于电磁场在不同表面结构有不同的分布形式,从而导致测量误差。为避免因操作而引起的误差,在使用时,请遵循以下原则:
   1、在同一点重复测量时,每次将探头离开10cm以上,间隔几秒钟后再测,避免被测材料因探头磁化后,影响下次测量结果。
   2、使用时,平面调零测平面,凸面调零测凸面,凹面调零测凹面,避免因结构不同而产生测量误差。
   3、尽量使用被测材料作为调零基体,避免因不同材料的导磁性不同,而出现测量误差。
   4、尽量在被测材料的同一部位调零后,再测相同部位。例如,在工件边缘和中间部位应分别调零。
   5、做调零用的表面,要尽量光滑;被测材料表面的粗糙度对测量数值影响很大,假如表面不光滑,应视情况取平均值。
  6、测量时,探头要保持与被测料面垂直,否则会产生较大误差。
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