AF210数字式覆层测厚仪KTE凯特
时间:2015-09-02 阅读:478
AF210数字式覆层测厚仪/磁性便携式覆层测厚仪KTE凯特
AF210数字式覆层测厚仪是磁性便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。
主要特点:
采用了磁性测厚方法,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(GROUP);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
可采用两种方法仪器起进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有存贮功能:可存贮500个测量值;
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;并可用直方图对一批测量值进行分析;
具有打印功能:可打印测量值、统计值、限界、直方图;
具有与PC机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC机,以便对数据进行进一步处理;
具有电源欠压指示功能;
操作工程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;
设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;
测头类型 | F | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围(μm) | 0~1250 | |
低限分辨率(μm) | 0.1 | |
示值 | 一点校准(μm) | ±(3%H+1) |
二点校准(μm) | ±[(1~3%H)+1] | |
测试条 | zui小曲率半径(μm) | 凸1.5 |
zui小面值的直径(mm) | Φ7 | |
基体临界厚度(mm) | 0.5 |
覆盖层基体 | 有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂料塑料、搪瓷和阳极化处理等) |
如铁、钢等磁性金属 | F性探头 测量范围:0μm~1250μm |
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属 | N型探头 测量范围: 0μm~1250μm |