超声波膜厚计

LU-200J超声波膜厚计超声波膜厚计

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2015-08-22 01:48:02
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上海民仪电子有限公司

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产品简介

LU-200J超声波膜厚计

详细介绍

测定方法
 超声波反射式
测定对象
 树脂、玻璃、金属等基体上的涂镀层
测定范围
 10～700um
测定精度
 <50um±2um    >50um±4%
分辨率
 1um
统计功能
 测试数/标准偏差
zui大值/zui小值/平均值

信号输出

 RS232标准接口

显示方式

 LCD数显

操作面板

 密封防水按键

附属品

 铁基体/校正标准片/测头/电池曲面支架/皮套/说明书

电源

 5#碱性电池×6个

体积

 本机120（W）×250（D）×55（H）
测头￠63×85（H）

重量

 本机800g 测头220g
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