LU-200J超声波膜厚计-超声波膜厚计_膜厚计-上海民仪电子有限公司手机版

LU-200J超声波膜厚计超声波膜厚计

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2024-08-14 10:34:04: 2204

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产品简介

LU-200J超声波膜厚计

详细介绍

测定方法	超声波反射式
测定对象	树脂、玻璃、金属等基体上的涂镀层
测定范围	10～700um
测定精度	<50um±2um >50um±4%
分辨率	1um
统计功能	测试数/标准偏差 zui大值/zui小值/平均值

信号输出	RS232标准接口
显示方式	LCD数显
操作面板	密封防水按键
附属品	铁基体/校正标准片/测头/电池曲面支架/皮套/说明书
电源	5#碱性电池×6个
体积	本机120（W）×250（D）×55（H）测头￠63×85（H）
重量	本机800g 测头220g

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