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日本KETT LZ-990膜厚计(涂镀层测厚仪)本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
日本KETT LZ-990膜厚计(涂镀层测厚仪)技术参数:
规格型号 | LZ-990 |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层 |
测定范围 | 0~3000um或0~120.0mils |
测定精度 | <50um±1um , >50um±2% |
分 辨 率 | <100um 0.1um , >100um 1um |
功能统计 | 中、英、日、韩四国语言菜单,自动关机,背光设定 ,自动识别。 可针对不同产品保留测量通道,数据可存储,可输出至电脑,可分批统计zui大值、zui小值、平均值、标准差。 配有数据处理软件 |
计量单位 | 公制、英制可自由切换 |
显示方式 | LCD液晶屏 |
操作面板 | 密封防水按键 |
随机附件 | 基体/校正标准片/电池/腕带/说明书 |
电 源 | DV6V 5#碱性电池×4个 |
体 积 | 75mm(W)×100(mmD)×21mm(H) |
重 量 | 250g |