日本AND公司新产品BM 自动微量分析天平追求高精度计量：最高精度可达2500万分之一，采用无风电离器和导电涂层的防风玻璃，解决静电产生的问题。BM是一款稳定性高的微量分析天平，精度可达0.001mg，稳定时间约8S。

日本AND 超微量分析天平BM系列是一种高精度的微量分析天平，它可以测量最小显示精度为1微克（μg）的样品重量。它具有以下特点：日本进口，所有部件均由A&D精密打造。采用后置式长力臂电磁传感器，内部分辨率为1/25,000,000。

内藏校准砝码，仅需按一下校准专用键（CAL）即可自动完成。全天候自动自我校准系统（Automatic Self Calibration）。配置不容易受风影响的网格状称盘。

BM-22超微量分析天平操作性良好的称量室空间，称量台双环设计，无需两层防风罩。标配无风静电消除器，采用导电涂层的防风玻璃罩，轻松解决静电影响。自动环境侦测，自动/手动调整三段FAST MID SLOW 反应速度。具有百分比（Pct）功能，适用于重量检测或配方检测。

高精度计数功能，自动计算零件单重，配合ACAL (自动精度提高)功能，自动提高计量的精确度。重量检测功能（Comparator Function）.输出结果以 HI OK LO 灯号表示，并可通过选配件实现红绿灯和声音报警输出。具有使用量程的百分比显示（Capacity Indicator）。

具有时间与日期输入功能，配合打印机和电脑的输入与打印。超大记忆体。可储存200组称重数据。

两种通信方式 标配RS-232C和USB接口，天平可同时连接：“电脑与打印机”、“电脑和数据记录器”、“电脑和外部显示器”两种不同输出设备。

由于日本AND的BM-22电子天平具有如此高的精度和功能，它可以应用于以下场景：

元素分析/烟尘分析/环境测定/生化相关实验/微量分析测量。这些场景需要对极微量的样品进行准确和快速的称重，并且要避免静电和风力等干扰因素。

药物制剂/化学合成/材料科学/纳米技术等领域。这些领域需要对复杂的配方进行精确的控制，并且要求天平具有高度的稳定性和可靠性。

质量控制/检测/认证等领域。这些领域需要对产品的重量或比重进行严格的检测，并且要求天平具有高度的灵敏度和反应速度。

BM系列微量分析天平规格如下：