经济型SUNPLUS塑料颗粒黑点仪

颗粒表面的黑点是影响产品质量的重要原因。由于颗粒的外形不规则及透光度不同，颗粒的黑点检测一直是技术难点。Sunplus利用专门设计的光学成像方法，推出批次静态检测方法，可以有效解决颗粒的黑点检测难题。这种静态黑点检测法的优点是批次操作，检测准确， 还可以数颗粒的个数，从而获得黑点颗粒比，为产品的质量评判提供有价值的参数。

SUNPLUS塑料颗粒黑点仪用途Application

按相关国家标准分析树脂颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比。

适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS等等。

也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。

技术指标Specifications

1.测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。

2.最小检测目标： 0.1mm  

3.检测精度： 小于0.025mm

4.检测面积：不小于200×200mm  

5.器皿大小：120mm×120mm净面积，或定制

6.放大倍数：>20倍  

7.光密度:不小于6000流明

8.光源要求: 24V/60W  

9.供电电源：220V,50HZ  

10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)

仪器功能特点

1.测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。                                                

2.可提供黑点，以及膜片质地纹路的分布图谱。

3.黑点或膜片质地分布可放大和缩小。

4.被测目标可分类计数和统计。

5.按适用的标准自动生成检测报告。

6.报告和图谱可打印可储存。

7.进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。

8.颗粒以透明器皿为载体，批次检测。