测量所有目标物

小型感测头集成了高新技术，成为“业界*”。

[全新开发] ABLE II ACTIVE BALANCED LASER CONTROL ENGINE (动态平衡激光控制引擎)

根据目标物将激光强度自动调整到*状态

如今，构建良好的ABLE 控制更加强劲。ABLEII 通过平衡激光发射时间、激光功率和增益这三种要素，能够智能优化RS-CMOS 功能。此外，ABLE II 具备高速的追踪能力，比常规型号要快八倍。

“高速”和“高重复精度”同时实现。双端口数据传输功能能够以更高的速度传输更高像素的数据，从而使重复精度翻倍。使用四倍速度还能实现更高速的传输。此外，使用全新开发的HDE*物镜，可以拥有高度定义的接收光波形和双倍的像素重复精度。因此，KEYENCE 实现了高精度和高再现性，具备胜任高难度应用的能力。

*HDE 物镜= 高精度Ernostar 物镜高精度测量透明/镜面物体

透明/镜面表面测量结果展示

镜面反射型

LK-G5000 系列包含一组感测头，专为玻璃或其他镜面等高反射物体而设计。感测头包含宽光点和聚焦光点两种等类型，在这些表面上进行高精度测量。感测头包含宽光点和聚焦光点两种等类型，在这些表面上进行高精度测量。

光点直径 (宽光点型)

光点直径 (聚焦光点型)

测量触摸屏的缝隙

这些感测头中的光学系统已经过优化，可在高反射率的镜面物体上获得zui大分辨率。通过进一步改进接收光元件的功能性，现在可稳定测量 20 μm 的缝隙。

稳定测量粗糙物体

在粗糙物体上进行稳定的测量

宽光点型

看上去平整的表面在放大后就会发现有一些细微的凹凸不平。在使用常规聚焦光点型传感器时，这些细微的表面不平时常会造成测量错误。通过使用宽光点的感测头，就可以均化表面不平整的影响，即使在粗糙物体上也能实现稳定的测量。

光点直径

金属表面的测量

zui大限度地减少粗糙表面的不平整所造成的影响，例如拉丝金属表面和橡胶表面等。以往的测量度现在已成为现实。

得益于 LK-G5000 系列中使用的圆柱形物镜，整个测量范围内的光点宽度始终保持一致。这样即使目标距离感测头过近或过远，平分面积始终不变。

测量精细物体和轮廓

测量精细物体和轮廓

聚焦光点型

同类中zui小的光点直径，ø25 μm（LK-H020），可测量从精细部件到轮廓的任何目标物，度达到行业zui高水准。

光点直径

测量 IC 阵脚高度

得益于 delta cut 技术，滤光片导致的畸变被降至zui低。这些对光学系统的改进意味着光点不仅在RS-CMOS 上聚焦，在目标区域中同样聚焦。这样就能实现之前无法完成的高精度轮廓测量。

控制器: 3可选类型

简单连接外部设备和配置显示控制类型部件

感测头/ 网络可连接数多达12 个

通过将主控制器与附加感测头模块连接，可以使用多达12 个的感测头同时测量。 此外，它与CC-Link/DeviceNet™兼容，可以与其它制造商的模块放在同一个网络中。

便利的计算功能

即时计算多个感测头的测量值，使得用户能在控制器内部设置复杂的计算，代替以前要用PLC 或PC 进行的计算。

标准步骤测量

测量值1=B-A 
测量值2=B-C 
测量值3=A-C…

zui大值/ zui小值测量

测量值1= zui大值(A,B,C...) 
测量值2= zui小值(A,B,C...)

平整度测量

测量值1= zui大值(A,B,C...)- zui小值(A,B,C...)...

变形测量

测量值1=B-(A+C)/2…

多点厚度测量

测量值1=X+(A+D) 
测量值2=Y+(B+E) 
测量值3=Z+(C+F)...

平均高度测量

测量值1= 平均值 (A,B,C,D,...)

通过PC 轻松配置/ 分析

轻松配置

任何人都可通过从菜单和示例中选择而
轻松进行配置。

接收光波形显示

可以监控感测头的光接收条件。

高容量数据存储

可存储多达120 万的数据点。还可以通过上下移动鼠标放大或缩小图形以及读取数据。