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美国超声波测厚仪,漆膜涂层测厚仪,黑白光两用照度计

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TT230-时代 涂层测厚仪

  • 发布日期:
  • 有效日期:
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  • 已获点击:

  • 2024年3月18日
  • 2024年9月18日
  • 上海上海市
  • 北京
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【产品简介】

TT230涂层测厚仪:
测量原理:涡流法;
测量范围:1~1250μm;
测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准),±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准)。


【详细说明】

TT230涂层测厚仪:
TT230涂层测厚仪是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于TT230涂层测厚仪体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

TT230涂层测厚仪主要功能:
可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
自动关机功能。
删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。

TT230涂层测厚仪主要技术指标: 
测量原理:涡流法
测量范围:1~1250μm
测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准)
     ±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准)

 

    
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