ATX系列的分析天平可提供一键自动校准。其外部校准砝码可用于ATX和ATY系列分析天平的大跨度校准。这样，用户可以通过一键式操作在测量过程中快速调整每次测量所需的稳定性和响应率比例。

该新分析天平可轻易地为用户实现多五个不同的样品测量数值的输入，储存和显示。ATX/ATY系列新分析天平的对比功能还可自动比较样品的测量值是否与标准相符，并明确显示所测量得到的结果。其运行模式非常便于进行许多微小样品的测量及处理得到所需总质量。

此外，通过使用Windows操作系统的指令信息，用户无需安装任何数据通信软件就可以把天平测量得到的数据到直接发送Microsoft Excel或者其它的Windows应用软件。这种具有典型的电子表格功能的标准自动打印系统相结合，意味着即使非常困难的应用均可在该系统中轻易地实现自动化。 

特长
●装载着耐久性出色的高性能铝一体型质量传感器「Uni块」。
●由于正在测量表示使之稳定很快表示的反应的Stylish舞台装置功能附着，调节容易。
●ATX类型由于包藏砝码装载，用简单的操作能灵敏度校对。 

方法
●实体尺寸:213×355×338mm
●计量碟子尺寸:φ91mm
●功能:件数测量·百分率·重量检查/目标量测量·任意系数换算
●电源:AC100v 50/60Hz（AC适配器附属）
●电源编码:1.8m 2P插头
●重量:ATX类型/约6.2kg，ATY类型/约6.0kg 

ATX324电子分析天平产品规格：

ATX324电子分析天平技术参数

量称：320g 精度：0.1mg 实体尺寸:213×355×338mm 计量碟子尺寸:φ91mm 功能:件数测量•百分率•重量检查/目标量测量•任意系数换算电源:AC100v 50/60Hz（AC适配器附属