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显微镜中心或工业质量保证实验室的多功能解决方案
不同的真空室大小和可满足所有应用要求的载物台选项-甚至是大型工业零部件样品
使用LaB6灯丝，能够得到优异的图像质量
对不导电和无导电涂层的样品的成像和分析性能出色
可以配置多种分析探测器用于满足各种显微分析应用的需求
SmartSEM Touch可以通过使用您的指尖与其进行交互式工作流程控制。它简单易学， 大大减少了培训所付出的努力和成本，甚至新用户在几分钟内也能够捕捉令人惊叹的图像。此用户界面还支持需要自动化工作流程以执行可重复检查任务的工业操作员。
EVO 擅长于对未经处理和没有导电涂层的样品获取高质量的数据。EVO 还允许样品保留其原始状态， 维持含水和重污染样品的数据质量。此外当成像和微量分析面临挑战时，选用LaB6灯丝则能够给予更好的分辨率、 对比度和信噪比。
EVO可以作为半自动、多模式工作流程的一部分，通过重新定位感兴趣区域，并以多种方式收集数据，形成信息的完整性。将光学和电子显微镜图像合并起来进行材料表征或零件检验，或者将 EVO 与蔡司光学显微镜相关联，进行关联颗粒度分析。
专家用户可以获取以及设定高级的成像参数和分析功能。
SmartSEM: 为有经验用户使用的控制界面
新手用户可以使用预定义的工作流程和常用的一些参数-非常适合初学者。
SmartSEM Touch: 是一款在触摸屏电脑上运行的简化图形用户界面
Shuttle & Find 将EVO、光学显微镜和数码显微镜组成一个关联的、多模态工作流程
由于蔡司是各种类型显微镜和计量系统的优秀供应商， 所以您还可以将EVO 与蔡司其它解决方案相结合，使其功能能够发挥得更好。
通过使用Shuttle & Find（蔡司关联显微镜的软硬件部分），您可以在（数码）光学显微镜和 EVO 之间建立一个高效的多模式联用的工作流程。将光学显微镜的光学对比方法与同样的扫描电镜成像和分析方法相结合， 获得互补的数据， 从而更清楚地去了解样品的材料、质量或失效机理。
如果单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品，研究人员就会借助能谱仪（EDS）来采集元素化学成份的空间分布信息。
针对常规显微分析应用进行了优化
工作流程引导的图形用户界面
蔡司服务和系统支持
SmartEDX由蔡司提供支持，因此该EDS解决方案非常适合那些希望精简分析设备供应商数量的客户。所有安装、预防性维护、保修、诊断和维修、备件物流以及整个系统服务合同中的内容均由蔡司全面负责，为您的SEM分析解决方案提供一站式的的支持。
蔡司EVO 10 | 蔡司EVO 15 | 蔡司EVO 25 | |
选择 EVO 10（可选配BSD和EDS）是您想以一个非常实惠的价格购买扫描电子显微镜的切入点。即使这个EVO真空室很小，它也不同于台式电镜。您现在在 EVO 的投资保证了您已经为将来需要更多空间和端口的应用做好了准备。 | EVO 15 充分展示了 EVO 家族的灵活性概念， 并擅长于分析应用。选择 EVO 15 更大的真空室， 并增加对不导电样品或零件的成像和分析的可变压力模式， 你将有一个多功能多用途的显微镜设备或者工业质量保证实验室的解决方案。 | EVO25 是工业的主力解决方案， 它有足够的空间以容纳甚至更大的部件和组件。可选的 80 mm Z 轴行程载物台可进一步扩展 EVO 25的功能， 它可以处理重量高达2公斤的样品甚至倾斜。此外， 大的真空室将能够容纳多个分析检测器以满足苛刻的微量分析应用需求。 | |
| 最大样品高度 | 100 mm | 145 mm | 210 mm |
| 最大样品直径 | 230 mm | 250 mm | 300 mm |
| 电动载物台行程XYZ | 80 x 100 x 35 mm | 125 x 125 x 50 mm | 130 x 130 x 50 (或 80) mm |
| 高真空模式 (HV) 导电样品质量的成像与分析 | |||
可变压力模式 (VP) 不导电且不喷涂导电层样品的高质量成像和分析 | |||
| 扩展压力模式 (EP) 含水或被污染的样品在其自然状态下成像 |
质量分析/质量控制
失效分析/金相分析
清洁度检查
颗粒的形态和化学分析， 以满足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的标准
非金属夹杂物的分析
锌磷酸盐电涂层， 高真空模式下使用 SE 探测器成像
汽车座椅垫泡沫， 可变真空模式下使用BSE探测器成像，样品未喷涂导电层
不锈钢断口表面， 高真空模式二次电子成像
目视检查电子元件、集成电路、MEMS 器件和太阳能电池
铜丝表面及晶体结构的研究
金属腐蚀研究
断面失效分析
Wire bonding线脚检查
电容表面成像
Wire bond检查，在高真空或可变真空模式下用二次电子成像
镍层腐蚀的二次电子成像
二次电子图像观察的在电子产品上生长的晶须
对金属样品和夹杂物的结构、化学和结晶学进行成像和分析
相、颗粒、焊缝和失效分析
镀锌低碳钢的剖面， 使用 EVO 15 上的二次电子探测器进行成像
用F80砂砾铝粉喷砂后的S355钢表面
采用选择性激光熔化的方法制备的钛合金 (Ti-6Al-4V)的表面， 能够看出充分熔化区域的旁边有未融化的 Ti-6Al-4V 粒子和其他材料
用于研究导电和不导电材料样品的特征
自愈合矿物的扩展和裂纹架桥网络， 形成了类似花状的水镁矿结构，在12kV下使用二次电子探测器成像
电池组件中的石墨烯泡沫结构， 在高真空下使用 二次电子探测器成像
航空航天复合材料，在10 kV可变压力模式下使用 C2D 探测器成像
