原子力显微镜(Atomic Force Microscope，简称AFM)是一种高分辨的新型显微仪器，广泛应用于各个领域，包括半导体、纳米功能材料、生物、化工、医药等研究领域中，成为科学研究中重要的工具之一。
 

　　原子力显微镜的功能特点：
 

　　高分辨率：具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下(空气或者具有溶液的环境下)对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测。
 

　　广泛适用性：既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。
 

　　三维模拟显示：可对样品的形貌进行丰富的三维模拟显示，使图像更适合于人的直观视觉。
 

　　粗糙度测量：可用于样品表面微区高分辨的粗糙度测量，应用合适的数据分析软件能得到测定区域内粗糙度各表征参数的统计结果。
 

　　原子力显微镜的使用方法：
 

　　1.将待测样品放置在一个平坦的基座上，并固定好，确保样品表面干净、光滑以及无尘等杂质。
 

　　2.调整仪器参数，通过控制电压和扫描速度等参数来获得成像效果，这些参数需要根据具体实验需求进行调节。
 

　　3.在试验环境中建立合适的振动隔离系统，以降低外界震动对成像结果的影响。
 

　　4.选择合适的探头(probe)，探头通常由硅或碳纤维制成，并且有不同形状和尺寸可供选择，根据所需解析度和测量目标选择合适的探头。
 

　　5.打开设备并启动扫描程序，通过操纵机械臂将探针移至待测区域，并使其与样品轻轻接触。
 

　　6.在扫描过程中，原子力显微镜会记录被测样品表面顶部与探针间相互作用力变化情况，并转换为图像显示出来。这些相互作用力包括吸引力、斥力、摩擦力等等。
 

　　7.在完成扫描之后关闭设备并保存数据，对于进一步分析或处理数据可以使用专门软件进行操作。