DSC-300C零下35到350℃ 半导体制冷差示扫描量热仪

半导体制冷差示扫描量热仪测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系，应用范围非常广，特别是材料的研发、性能检测与质量控制。材料的特性：如玻璃化转变温度。冷结晶、相转变、熔融、结晶、热稳定性、固化/交联、氧化诱导期等，都是DSC的研发领域。

设备特点：

1.全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性

2.参数可设置多段升温、恒温、降温

3.仪器可采用双向控制（主机控制、软件控制），界面友好，操作简便

4.采用进口芯片，采集电路屏蔽抗干扰处理

5.传感器采用热熔技术代替传统的点焊技术，灵敏度更高

技术参数：

1. 温度范围:零下35~300℃

2.温度分辨率: 0.001℃

3.温度波动: ±0.01℃

4.升温速率: 0.1～100℃/min

5.恒温时间：可自行设置

6.控温方式：升温，恒温，降温（全自动程序控制）

7.扫描方式：升温扫描、降温扫描

8.DSC量程: 0～±800mW

9.DSC噪声: 0.01uW

10.DSC解析度: 0.01UW

11.工作电源: AC220V/50Hz或定制

12.气氛控制气体：两路自动切换（仪器自动切换）

13.程序控制：可实现六段升温恒温控制，特殊参数可定制

14.气体流量：0-300mL/min  （可定制其它量程）

15.气体压力：≤5MPa

16.显示方式: 24bit色，7寸 LCD触摸屏显示

17.数据接口：标准USB接口

18.参数标准:  配有标准物质（铟，锡，铅），用户可自行校正温度

19.仪器热电偶：三组热电偶，一组测试样品温度，一组测试仪器内部环境温度，一组炉体过热自检传感器

配置清单：