本文详细介绍了使用TA 仪器氙灯导热仪DXF200 测量高导热微米级薄膜样品的面内热扩散
系数的相关理论和实验设计，对25 微米的石墨薄膜进行了多次重复实验。通过对标准样品铜的
热扩散系数验证，证明了系统的可靠性。对石墨薄膜进行8 次脉冲测试，实验数据与理论模型拟
合度高，重复性优异。