LEPTOSKOP2042FE/NFE基本型涂层测厚仪

产品描述：

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。

　　仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

　　彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

LEPTOSKOP2042FE/NFE基本型涂层测厚仪技术参数：

　　◆　数据传输接口RS232 或　USB

　　◆　电源：电池、充电电池、USB或外接电源

　　◆　测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

　　◆　测量速度:　每秒测量2个数值

　　◆　存储: zui多 9999 个数值，140个文件

　　◆　误差:

　　涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)

　　涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um

　　涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um

　　涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：

　　试块和膜片

　　探头定位装置　(适用于微型探头)

　　定位辅助装置 (适用于微型探头)

　　电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

　　电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows