影响磁性涂层测厚仪测量因素有哪些

1，基体金属磁性变化。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上 对仪器进行校对。
2，测量基体金属厚度，基体金属有一定临界厚度，超过厚度测量就不受基体厚度的影响。
3，边缘效应，在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不的，校对试片尽量在试片中间以减少误差。
3，测量件曲率，试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
5，被测物体表面粗糙度，基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。
6，磁场，被测物体周围磁场会干扰磁性测量，影响涂层测厚仪精度。
7，附着物质，本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
8，测量过程中探头的放置，探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。这是涂层测厚仪（其他测厚仪，如超声波测厚仪也是这样）测量中要注意的问题。
9，试片的变形及试片本身的误差，探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现一定的误差。
10，测量次数，对于数据要求经度比较高的测量要实行多次测量求平均值，精度要求更高的可以多台仪器测量求平均值。
11，还有一些其它不确定因素。