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LE-373分体式膜厚计校准方法

时间:2022-05-27      阅读:521

LE-373分体式膜厚计校准方法

1.基材校准,每台仪器随货都有附送一块校零板,在确认探头已安装好的情况下,按[POWER]键可开机,开机后[→]键一次,将光标移动至[调整],按[ENTER]键可进入校正程序。测量基材板3-5次后,按[ENTER]键,屏幕显示“0.0”,按[ENTER]键.

2.膜片校准,校准的时候按照标准膜片先薄后厚的方式依次选择。具体操作方式如下:把第一块标准膜片放在基材板上测量3-5次后,按[ENTER]键,屏幕显示厚度值。若和标准膜片相同,按[ENTER]键;若不同,按[DEL]键、输入标准膜片厚度值后按[ENTER]键。校准完一片膜片后,则继续选择更厚的规格依次按照上面步骤进行。

LZ-373涂层测厚仪为LZ-370型升级版:升级部分为数据存储有原理的3000个加大为39000个;资料传输速度更快;管理软件的升级。

该涂层测厚仪是采用电磁感应和涡电流双重测试原理无损测试非磁性金属上( 铝、黄铜、青铜、等)或磁性基材(铁或钢)上的绝缘层(如:油漆、Alumite、橡胶、塑料、珐琅、瓷漆、树脂、其他)或非磁性涂镀层(如:油漆、塑料、树脂、橡胶、珐琅、锌、铬、锡、铜、铝、其他)的厚度。


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