厦门XHT110表面光洁度仪粗糙度测试仪

产品介绍

厦门XHT110表面光洁度仪粗糙度测试仪，该产品不仅可测量平面、直径大于20mm（经验值）的外圆面、锥面，还可测长宽大于80×30mm的沟槽。

厦门XHT110表面光洁度仪粗糙度测试仪是一种手持式表面粗糙度（光洁度）检测仪器，可对多种机械加工零件表面的粗糙度进行测量，包括平面、斜面、外圆柱面，曲面，小孔，沟槽及车轴等。该仪器操作简便，功能全面，测量快捷，精度稳定，携带方便，能测量 新标准的主要参数，本仪器全面严格执行了标准。测量参数符合标准并兼容美国、德国、日本、英国等国家的标准。可根据选定的测量条件计算相应的参数，并在显示器上显示出全部测量参数和轮廓图形。适用于车间检定站、实验室、计量室等环境的检测。

XHT110表面光洁度仪粗糙度测试仪主要功能：

可选择4种测量参数Ra、Rz、Rt、Rq；

校准样块采用光学玻璃基体，由国家计量院鉴定，精度高，不易划伤，使用寿命长；

具有校准功能，操作简单；

广泛用于金属与非金属加工表面的生产现场及外出鉴定的检测；

采用高速DSP处理器进行数据处理和计算，速度快，精度更高；

可选择取样长度0.25 ，0.80 ，2.50；

点阵LED液晶显示，高亮度，无视角，宽温度，适合各种场合；

自动关机功能以及低功耗软硬件设计使仪器工作时间超长；

两种充电方式，充电器或计算机USB口充电，可边充电边工作，方便快捷；

传感器测头具有保护门，有效的保护了传感器测头，保证了测量的精度；

外形采用拉铝模具设计，坚固耐用，抗电磁干扰能力显著，符合当今设计新趋势。

XHT110表面光洁度仪粗糙度测试仪主要技术参数：

测量参数（μm） 　Ra、Rz、Rq、Rt

测量范围（μm） 　Ra、 Rq： 0.05 ~ 10.0             Rz、 Rt： 0.1 ~ 50

取样长度（mm） 　0.25 ， 0.80 ， 2.50

评定长度（mm） 　1.25 ， 4.0 ， 5.0

行程长度（mm） 　6

示值精度 　0.01

示值误差 　±（7-10）%

示值变动性 　＜12%

传感器触针针尖圆弧半径及角度 　针尖圆弧半径：10 μm±1 μm

传感器触针静测力及其变化率 　触针静测力：≤ 0.016N                测力变化率：≤ 800N/m

传感器导头压力 　≤ 0.5N

电池 　3.7V锂离子电池

外形尺寸106 mm×70 mm×24 mm

重量 　200g

工作环境条件 温 度：  -20℃～40℃    相对湿度：<  90%    周围无振动、无腐蚀性介质

XHT110表面粗糙度仪参数符合GB/T 3505-2000《产品几何技术规范表面结构轮廓法、表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范（GPS）表面结构、轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性》。

XHT110表面光洁度仪粗糙度测试仪优点： 　　

可测4种参数

校准样块采用国家计量院标定的光学玻璃基体，准确、，硬度高不易划伤，不变形，使用寿命长，受测针半径变化影响小 　

采用高速DSP数字信号处理器，准确，*性好 　

Ra值可测0.01~10.00

高温、湿度环境正常工作，高技术处理成功

标准配置：

XHT110主机、

多刻线校准样块、

支架、

充电器、

数据线、

说明书、合格证、保修卡