产品用途：
温度冲击试验箱广泛应用于重点实验室和大型第三方检测测试实验室，涉及航空、航天、兵器、船舶、汽车、智能制造、新能源、通讯、计量、电子、铁路、电力、医疗及科研院校等诸多国民经济的重点领域，在温度冲击条件下对测试件温度应力检测、可靠性测试、性能测试、温度冲击测试等。
满足标准：
GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件
GJB 150.3A-2009 高温试验方法
GJB 150.4A-2009 低温试验方法
GJB 150.5A-2009 温度冲击试验方法
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法107温度冲击试验的要求
GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备
主要技术指标：
产品名称 | 两箱式温度冲击试验箱 | ||||||
产品型号 | MQ-2IT50 | MQ-2IT100 | MQ-2IT200 | MQ-2IT320 | MQ-2IT500 | MQ-2IT1000 | |
内箱容积 | 升/L | 50 | 100 | 200 | 320 | 500 | 1000 |
内箱尺寸 | W*D*H（cm） | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×60×55 | 65×70×70 | 70×80×90 | 100×100×100 |
外形尺寸 | W*D*H（cm） | 95×110×175 | 105×120×190 | 115×130×210 | 195×160×230 | 200×200×228 | 245×230×238 |
标准承重 | 样品架（kg） | 15 | 30 | 40 | 45 | 50 | 60 |
工作模式 | 垂直提篮式 | 水平滑篮式 | |||||
性能指标 | 温度范围 | A、-75℃～+200℃ B、-90℃～+200℃ C、-120℃～+200℃ | |||||
冲击范围 | A、-55℃～+160℃ B、-75℃～+160℃ C、-85℃～+160℃ | ||||||
温度波动度 | ≤±0.5℃ | ||||||
温度均匀度 | ≤±2.0℃ | ||||||
温度偏差 | ≤±2.0℃ | ||||||
升温速率 | RT～+200℃≤40min | ||||||
降温速率 | A、+25℃～-75℃≤60min B、+25℃～-90℃≤80min C、+25℃～-120℃≤120min | ||||||
温度转换时间 | ≤10s | ||||||
温度回复时间 | ≤5min | ||||||
暴露条件 | 高温暴露30min； 低温暴露30min | ||||||
制冷方式 | 压缩机制冷 | ||||||
冷却方式 | F、风冷 W、水冷 | ||||||
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