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JW-5003D半导体器件可靠性测试所需要用到的环境试验设备

时间:2022-07-28      阅读:1485

半导体器件可靠性测试所需要用到的环境试验设备JW-5003D

三槽式冷热冲击箱JW-5000系列

用于测试材料结构或复合材料,在瞬间经温度以及极低温的连续环境下所能忍受的程度,最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

产品亮点

●高低温循环可达1000次,不结霜,温度恢复时间小于5分钟,转换时间小于10秒。

●三箱式结构,样品不需移动,易于测试线缆连接,可自由切换两温和三温模式。

●试件放置在固定的测试室内,不会随提篮移动,相对静止,无任何机械冲击。

●采用彩色触摸屏控制,界面友好,具有参数记录功能,Error信息实时显示,轻松排除故障。

●流体力学仿真精密计算,变频技术与产品工艺制造技术有效降低能耗。

技术参数 Technical parameter

测试空间容积: 50-2250升

高温室温度范围: +60至+200℃

温度恢复时间: ≤5min

试验室温度范围: -72至+180℃

低温室温度: -80至-10℃

音: 56-63 dB(A)


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