覆层测厚仪是最新研发的新产品，与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点：

1. 测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；

2. 精度高 ：产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；

3. 稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；

4. 功能、数据、操作、显示全部是中文；

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。