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I试片
定量品质试片
(I)是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片,I试片用于
1.将激磁次数降至zui少,以提高生产效率
2.确定磁场方向和相对的磁场强度
3.平衡多向磁场
a)标准I试片
缺陷呈基圆和十字交叉条形,适用于纵向和周向磁场
件号:519630 型号:KSC-230
件号:521048 型号:KSC-430
说明:标准I试片,缺陷深度为试片厚度的30%,试片厚度为0.002英寸标准I试片,缺陷深度为试片厚度的30%,试片厚度为0.004英寸
b)小型I试片
与KSC-230相似,于工件上的小区域,每片四个圆,可切割开,单独使用
件号:519631
型号:KSC-4-230
说明:小型I试片,每片试片有4个基圆,缺陷深度为试片厚度的30%,试片厚度为0.002英寸
c)不同深度的I试片
用于定量要求更高的作业,缺陷呈三个不同深度的同心圆环
件号:519632
型号:KSCT-234
说明:不同深度I试片,缺陷深度分别为试片厚度的20%,30%,40%,试片厚度为0.002英寸,试片背面带胶,可直接贴在工件上。
件号:521049
型号:KSC4-234
不同深度I试片,缺陷深度分别为试片厚度的20%,30%,40%试片厚度为0.004英寸
名称 | 型号 | 备注 |
中华人民共和国国家标准GB11345-1989 | CSK-IB | |
RB-1,RB-2,RB-3 | | |
中华人民共和国专业标准ZBY231-1984,ZBY232-1984 | 1# | |
DB-H1,DB-H2 | | |
DB-P | 全套12块 | |
DB-D1ab | 全套2块 | |
DB-R,DB-D2(平底) | | |
荷兰试块 | V-1(IIW1) | |
牛角试块 | V-2(IIW2) | |
半圆试块 | SH-1 | |
模拟试块 | H-30,H-50,H-80 | 每种全套5块 |
灵敏度试块 | CS-1 | 全套15块 |
CS-2 | 全套66块 | |
沟槽透度计(射线照像探伤用) | 1-2# | 全套2块 |
铁道部标准试块 | WGT-1,WGT-2,WGT-3 | |
GTS-60 | 短432mm,加长1300mm | |
带把阶梯 | | |
三角试块a.b | 全套2块 | |
TDS | | |
TZS-R | 全套6块 | |
LG-R | 全套2块 | |
水电部标准试块 | SD-I | |
SD-IIab | 全套2块 | |
中华人民共和国电力行业标准DL/T5048-1995 | CSK-IB,RB-3,SD-IV | |
SD-III | 来料加工 | |
补偿测量ab | 全套2块,来料加工 | |
小径管焊接DL-1 | 全套4块 | |
测量补偿量 | 来料加工 | |
美国标准试块 | NAVSHIPS | |
ASME | 全套6块 | |
英国标准试块 | B.S.A3 | |
日本标准试块 | JIS-STB-A2,JIS-STB-A3 | |
JIS-STB-G | 全套10件 | |
对比试块 | DZ-1 | |
直流环形试块(磁粉探伤) | | |
阶梯试块(射线照像探伤) | | |
灵敏度试块 | A1,A2 | |
JB1150-73钢板试块 | | 全套3块 |
盲区试块 | | |
水平线性试块 | 1-3# | 全套3块 |
参考试块 | CS-R | 全套14块 |
钢板试块 | | 全套5块 |
中华人民共和国行业标准JB4730-1994 | 板厚≤20mm双晶直探头试块 | 全套2块 |
板厚>20mm单晶直探头试块 | 全套6块 | |
纵波直探头试块 | | 全套4块 |
纵波双晶直探头试块 | | 全套4块 |
曲面对比试块 | | 全套14块 |
复合钢板对比试块 | | 来料加工 |
奥氏体钢锻件试块 | | 全套27块,来料加工 |
CSK-IA(综合试块,类似荷兰试块) | | |
CSK-IIA(长横孔试块) | | |
CSK-IIIA(短横孔试块) | | |
CSK-IVA | | 全套4块 |
T1,T2,T3型试块 | | 来料加工 |
铝试块 | | 来料加工 |
测厚试块 | | 全套2块 |
探头组合性能试块 | φ5.6孔 | |
工业锅炉T型接头对接焊缝试块 | RB-T,RB-Z | 提供尺寸 |
铸钢试块 | | 来图来料加工 |
铝合金试块 | | 来图来料加工 |
中国石油天然气总公司标准SY4065-1993 | SGB-1~6 | 全套6块 |
JG/T3034.2-1996钢网架试块 | CSK-1C | 全套3块 |
RBJ-1 | 提供直径和壁厚 | |
CSK-I | | |
CSK-II | | |
CSK-III | | |
中华人民共和国电力行业标准DL/T694-1999 | LS-1 | |
LS-2 | | |
微盲区试块 | STM-1,STM-2 | 产品 |