双探头超声波测厚仪GM130概述

超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

测量范围: 1.00～300.0mm(钢)
测量误差: ±(1%H+0.1mm),H为被测物真实厚度
工作频率：5MHz
测量分辩率: 0.01mm(1.00～99.99mm)
                0.1mm(100～300mm)
管材测量下限（钢）:  15*2.0mm( 6探头)
                                        20*3.0mm( 10探头)
 

超声波测厚仪GM130参数：

声速测量范围: 1000～9999m/s
试块厚度≤25mm时，声速测量精度为±1.25mm/Hx100%
试块厚度≥25mm时 ，声速测量精度为±5%
 

双探头超声波测厚仪GM130物理特性：

工作环境：工作温度 0～40℃
相对湿度 <90%
无强烈振动、无腐蚀性介质、严禁碰撞、潮湿等。
电源: 三节1.5V AAA 电池
 产品净重：223g
 产品尺寸：72*29*146mm
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。