可编程高低温试验箱的测试流程
时间：2023-03-27 阅读：850
测试流程：
1.当样品断电时，首先将温度降至-50℃，保持4小时;样品上电时不进行低温测试非常重要，因为芯片本身上电时温度会高于+20°C，所以通常上电时更容易通过低温测试，所以必须先“冻透”，再重新上电进行测试。
2.启动机器，测试样品的性能，与常温相比性能是否正常。
3.进行老化测试，看是否有数据对比错误。
4.将温度升至+90℃，并保持4小时。与低温测试是相反的，芯片内部温度要保持在高温状态，加热过程中不断电。在4小时之后，执行测试步骤2、3和4。
5.高温和低温试验分别要重复10次。
如果测试过程在任何时候都不能正常工作，就被认为是测试失败。