说明：
    随着汽车电子技术的进步，今天的汽车里都有很多繁复的数据管理控制系统，并透过许多各自独立的电路，来传递每个模块间所需要的讯号，汽车内部的系统就好比计算机网络的「主从架构」，在主体控制单元与每个周边模块中，车用电子零件分为三大类别，包含IC、离散半导体、被动组件三大类别，为了确保这些汽车电子零组件符合汽车安全的*高标准，美国汽车电子协会(AEC，Automotive Electronics Council )系以主动零件[微控制器与集成电路..等]为标的所设计出的一套标准 [AEC-Q100]、针对被动组件设计为[[AEC-Q200]，其规范了被动零件所必须达成的产品质量与可靠度，AEC-Q100为AEC组织所制订的车用可靠性测试标准，为3C&IC厂商打进车用大厂模块的重要入场卷，也是提高中国台湾IC可靠性质量的重要技术，此外，目前大厂已经通过车用安全性标准(ISO-26262)，而AEC-Q100则为通过该标准的基本要求。

零件工作温度等级定义：
要求：该规范的目的是建立一个标准，用以描述基于一套*低认证要求的集成电路工作温度等级，为了达到*的目标，需要完成*项目的基本内容都可以在AEC-Q004查到

0等级：环境工作温度范围-40℃～150℃

1等级：环境工作温度范围-40℃～125℃

2等级：环境工作温度范围-40℃～105℃

3等级：环境工作温度范围-40℃～85℃

4等级：环境工作温度范围0℃～70℃

要求通过AECQ-100的车用电子零配件哉要列表：
车用一次性内存、电源降压稳压器、车用光电耦合器、三轴加速规传感器、视讯译码器、整流器、环境光传感器、非易失性铁电存储器、电源管理IC、嵌入式闪存、DC/DC稳压器、车规网络通讯设备、液晶驱动IC、单电源差动放大器、电容接近式开关、高亮度LED驱动器、异步切换器、600V IC、GPS IC、ADAS上等驾驶员辅助系统芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器..等

专有名词整理：

AEC-Q100车用IC产品验证流程图：

AEC-Q100类别与测试：
说明：AEC-Q100规范7大类别共41项的测试
群组A-加速环境应力测试(ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS)共6项测试，包含：PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL
群组B-加速生命周期模拟测试(ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS)共3项测试，包含：HTOL、ELFR、EDR
群组C-封装组装完整性测试(PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS)共6项测试，包含：WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI
群组D-芯片制造可靠性测试(DIE FABRICATION RELIABILITY TESTS)共5项测试，包含：EM、TDDB、HCI、NBTI、SM
群组E-电性验证测试(ELECTRICAL VERIFICATION TESTS)共11项测试，包含：TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER
群组F-缺陷筛选测试(DEFECT SCREENING TESTS)共11项测试，包含：PAT、SBA
群组G-腔封装完整性测试(CAVITY PACKAGE INTEGRITY TESTS)共8项测试，包含：MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV

测试项目简称说明：
AC：压力锅
CA：恒加速
CDM：静电放电带电器件模式
CHAR：特性描述
DROP：包装跌落
DS：芯片剪切试验
ED：电分配
EDR：非易失效储存耐久性、数据保持性、工作寿命
ELFR：早期寿命失效率
EM：电迁移
EMC：电磁兼容
FG：故障等级
GFL：粗/细气漏测试
GL：热电效应引起闸极漏电
HBM：静电放电人体模式 
HTSL：高温储存寿命
HTOL：高温工作寿命
HCL：热载流子注入效应
IWV：内部吸湿测试
LI：引脚完整性
LT：盖板扭力测试
LU：闩锁效应
MM：静电放电机械模式
MS：机械冲击
NBTI：富偏压温度不稳定性
PAT：过程平均测试
PC：预处理
PD：物理尺寸
PTC：功率温度循环
SBA：统计式良率分析
SBS：锡球剪切
SC：短路特性描述
SD：可焊性
SER：软误差率
SM：应力迁移
TC：温度循环
TDDB：时经介质击穿
TEST：应力测试前后功能参数
TH：无偏压湿热
THB、HAST：有施加偏压的温湿度或高加速应力试验
UHST：无偏压的高加速应力试验
VFV：随机振动
WBS：焊线剪切
WBP：焊线拉力
温湿度试验条件整理：
THB(有施加偏压的温湿度，依据JESD22 A101)：85℃/85%R.H./1000h/bias
HAST(高加速应力试验，依据JESD22 A110)：130℃/85%R.H./96h/bias、110℃/85%R.H./264h/bias
AC(压力锅，依据JEDS22-A102，设备：PCT-S)：121℃/100%R.H./96h
UHST(无偏压的高加速应力试验，依据JEDS22-A118，设备：HAST-S)：110℃/85%R.H./264h
TH(无偏压湿热，依据JEDS22-A101，设备：高低温湿热试验箱)：85℃/85%R.H./1000h
TC(温度循环，依据JEDS22-A104，设备：冷热冲击试验箱、温度循环试验箱)：
等级0：-50℃←→150℃/2000cycles
等级1：-50℃←→150℃/1000cycles
等级2：-50℃←→150℃/500cycles
等级3：-50℃←→125℃/500cycles
等级4：-10℃←→105℃/500cycles
PTC(功率温度循环，依据JEDS22-A105，设备：冷热冲击试验箱)：
等级0：-40℃←→150℃/1000cycles
等级1：-65℃←→125℃/1000cycles
等级2～4：-65℃←→105℃/500cycles

HTSL(高温储存寿命，JEDS22-A103，设备：OVEN)：
塑料封装零件：
等级0：150℃/2000h
等级1：150℃/1000h
等级2～4：125℃/1000h or 150℃/5000h
陶瓷封装零件：200℃/72h

HTOL(高温工作寿命，JEDS22-A108，设备：OVEN)：
等级0：150℃/1000h
等级1：150℃/408h or 125℃/1000h
等级2：125℃/408h or 105℃/1000h
等级3：105℃/408h or 85℃/1000h
等级4：90℃/408h or 70℃/1000h
ELFR(早期寿命失效率，AEC-Q100-008)：通过这项应力测试的器件可以用在其它应力测试上，通用数据可以使用，ELFR前后的测试在是温和高温条件下进行。