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高低温冲击循环试验箱，键盘冷热冲击测试箱
用途：冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
a) 测试方案：将装配好的整机放置在将温度冲击试验箱中：先在-40℃±2℃的低温环境下保持1 h，在1min内将温度切换到80℃±2℃的高温环境下并保持1h ，共做10个循环(20h)，样品取出后在室温下面放置2 h以上。拆开整机将拱形薄膜从PCB板上撕掉后检查Dome有无从薄膜上脱落、测试Dome及EMI层的电阻值、并测试Dome弹片的回弹曲线。
b) 通过准则：Dome没有从拱形薄膜上脱落;Dome的阻值小于 1.0 Ω(测试方法见15.3条)、EMI层的阻值小于 2.5 Ω;按键行程(Stroke)、接触力(P1)、回弹比率(Cc)符合15.4节的要求。
高低温冲击循环试验箱，键盘冷热冲击测试箱
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TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
标称内容积（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
试验方式 | 气动风门切换2温室或3温室方式 | |||||||
性能 | 高温室 | 预热温度范围 | ＋60～＋200℃ | |||||
升温速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分钟 | |||||||
低温室 | 预冷温度范围 | －78－0℃ | ||||||
降温速率※1 | ＋20→－75℃≤80分钟 | |||||||
试验室 | 温度偏差 | ±2℃ | ||||||
温度范围 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
温度恢复时间※2 | 5分钟以内 | |||||||
试样搁架承载能力 | 30kg | |||||||
试样重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
内部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。 | ||||||||
※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布） | ||||||||
满足标准
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；
4、GJB150.5-86温度冲击试验；
5、GJB360.7-87温度冲击试验；
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
