2014年5月30日，北京――安捷伦科技（NYSE：A）日前宣布推出强大的自动夹具移除（AFR）选件。该选件主要用于旗下的 PNA 系列网络分析仪。早前，这项误差校正技术仅在安捷伦物理层测试系统（PLTS）软件中提供。自动夹具移除（AFR）选件能够成就业界zui轻松、zui快速的非同轴器件测量，帮助工程师减少时间和资金的投入。

如今，许多器件都没有同轴连接器，只能通过夹具才能在同轴环境下进行测量。然而，要获得的被测件测量结果，需要去除夹具效应。尽管可以通过 EM 电磁仿真软件的建模，或者在基板上构建多个校准标准件来表征和去除夹具效应，但这些方法非常繁杂而且耗时。

安捷伦的 PNA AFR 选件可帮助工程师快速、地去除非同轴器件测量环境中的夹具效应：工程师可以使用快捷的五步向导程序完成必要操作，然后将去嵌入文件保存为多种格式，以便日后在 PNA、PLTS 和*设计系统软件中使用。

使用 AFR 选件时，工程师必须首先对夹具输入端的参考面进行同轴校准；然后再测量一个或多个标准件，将其作为夹具的 2 端口直通通道，或者充当开路或短路的半端接夹具。如果只使用单端口的 AFR，实施夹具去嵌入的过程可以更快。在被测件安装之前先对实际夹具的测量作为开路状态, 之后，AFR 选件会自动表征夹具，并将夹具效应从测量结果中去除。目前的 PLTS 软件也具备了单端口 AFR 功能。

安捷伦元器件测试事业部营销 Steve Scheppelmann 表示：“ AFR 选件的精度可与板上TRL校准相媲美，但实现起来更为轻松。对于不熟悉 AFR 的微波工程师，为了地校正夹具效应，他们*不必再去执行复杂的 EM 仿真或构建板上校准套件。而对于熟练使用 AFR 的信号完整性工程师，他们也能受益于 AFR 选件的单端口功能，从而显著节省测试时间。”

安捷伦将在 2014 IEEE MTT-S 微波会议上展示的 AFR 选件以及其他 20 款设计和测量解决方案。会议预定于 6月 1 日 至 6 日在美国佛罗里达州坦帕市举行，安捷伦位于 1133 展台。安捷伦合作伙伴的展台与安捷伦相邻，他们将展示的解决方案包括：建模和器件表征，半导体制造，IC、晶圆和 PCB 设计、测试和原型制造，天线测量系统和测试暗室以及定制系统等。此外，安捷伦高频技术中心研发 Robert Shimon 博士将于 6 月 3 日星期二上午 10:05-10:45 在 MicroApps 剧院发表主题演讲，题目是《数字市场如何推动微波技术发展》。而安捷伦元器件测试事业部研发 Bob Schaefer 将于 6 月 5 日星期二下午 2:05 在MicroApps 剧院发表 AFR 主题演讲，题目为《校准方法提高夹具器件的测量精度》。