扬州拓普电气科技有限公司提供的BC2690B抗干扰介质损耗测试仪详情说明

仪器概述

抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间快等特点。体积小、重量轻是我厂的第二代抗干扰介质损耗测试仪。

技术指标

1、环境温度：0 ～40℃（液晶屏应避免长时日照）

2、相对湿度：30%～70%

3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz

4、外形尺寸：长×宽×高   500mm×300mm×400mm

5、重量：约18Kg

6、输出功率：0.6KVA

7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）

8、测量范围及输出电压选择：

     介质损耗（tgδ）：±0.00～±999%

     试品电容容量（Cx）和加载电压：

     2.5KV档:≤300nF(300000pF)            3KV档:≤200nF(200000pF)

     5KV档:≤76nF(76000pF)                 7.5KV档:≤34nF(34000pF)

     10KV档:≤20nF(20000pF)

9、基本测量误差：

     介质损耗（tgδ）：1%±7个字(加载电流20uA～500mA)

     介质损耗（tgδ）：2%±9个字(加载电流5uA～20uA)

     电容容量(Cx)：1.5%±1.5pF

信息整理：抗干扰介质损耗测试仪生产厂家扬州拓普电气科技有限公司