扬州拓普电气科技有限公司提供的半导电屏蔽电阻率测试仪_TP_BDDZ_技术资料

半导电屏蔽电阻率测试成套装置是根据GB/T12706、GB/T11017等标准而研制的测试装置,适用于测量电线电缆半导电屏蔽电阻,符合GB/T 12706 GB/T11017等标准中规定要求。为了准确完成GB/T 12706、GB/T11017等标准中规定要求，本试验由半导电屏蔽电阻率测试仪、电缆制样机和恒温烘箱来完成。

技术参数：

·测量量程：2MΩ、200KΩ、20 KΩ、2 KΩ、200Ω五档，

·输出电流：1uA、10μA、100μA、1mA、10 mA。

·测量误差: 测量误差不大于±（0.5℅rd±2d）

·本仪器采用4位半数字表显示，数字表直接显示被测试样半

导电屏蔽电阻的阻值。

·本仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合GB/T 12706、GB/T11017等标准中规定的要求。

规格：

·外形尺寸：350×300×250mm 

·电源：AC220V 50/60Hz  0.5A

·烘箱：（客户选配）

·电缆制样机：（客户选配）

信息整理：扬州拓普电气科技有限公司