X射线荧光光谱仪能量色散检测仪XRF

edx-720光谱仪   测ROHS   目前已经停产  

产品简介：

EDX-720  能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-720采用优秀技术，能够精确地对塑料、金属及电子部件的成分进行定性分析、定量分析和定性半定量分析，满足目前RoHS的分析要求。仪器的分析元素含盖11号元素到92号元素。

详细介绍：

一、EDX-720 X射线荧光光谱仪主机部分:

1、 X射线发生器单元

X射线管
类型Rh靶
冷却方法空冷（附风扇）

2、X射线电源单元

电压5-50kV，每步1Kv（测定重金属(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)时，可以用50ｋV。但测定轻元素时，15kV是*的。另在工作曲线法中，随时可设定*电压。）电流 1-1000μA，每步1μA
稳定度±0.01%（外电压波动±10%）
保护电路过电压, 过电流, 过功率,
X射线连锁保护
（特点说明：电压、电流可以由计算机控制自动调节，满足不同元素的高精度分析，同时满足RoHS，ELV指令扩展的要求）

3、一次X射线滤波片 5种自动交换
（特点说明：不同元素应该采用不同的滤光片进行分析，这样才能有效降低背景，得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片，无须手动更换）

二、EDX-720 X射线荧光光谱仪检测器:
1、检测器
类型Si（Li）检测器
液氮只有在分析时添加
液氮消耗少于1升/天
检测面积10mm2
分析元素Na-U
分辨率：小于150电子伏特
（特点说明：采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率，可以避免元素谱线之间的干扰，从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上，Si(Li)半导体是性的实绩（岛津检测器是自己生产，在万一发生故障也迅速对应）。 掘场按振动检测器的性能下降。 精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时，容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出，还有因为是低强度，在测试金属中有害元素的感度也差。）

2、计数单元
放大器
拟合时间10μ秒
增益变化高/低
多道分析器（MCA）
变频型顺序比较ADC
道数2048道
最大计数率232-1/道

三、EDX-720 X射线荧光光谱仪样品室与测定室单元
1、样品室
盖子自动开启/关闭（带安全系统）
每次测定时盖子自动上升与下降。
最大样品尺寸300mm 直径 x 150mm高
（特点说明：样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露，满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试，无须切割）

2、测定室
X射线照射面积 下照射
光栏直径1、3、5、10mm可选
（特点说明：不同的分析面积采用不同尺寸的光栏，可以保证各种大小样品的高精度测试。）
测定室开孔13mm
3、测定气氛：大气
4、CCD观察定位系统
配备CCD数码观察系统，可以准确定位分析区域。

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