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SMX无损检测仪微焦点X射线透视检查装置
无损检测仪微焦点X射线透视检查装置
Xslicer SMX-6010是一款坚直照射型x射线检查设备，配备了生产的微焦点x射线发生器和高分辦率平板探测器。通过高清晰度和宽动态范围图像，可以观察到细微的内部结构和缺陷。此外，可以简单快速地进行透视/CT模式切换，根据工作要求实施多种观察。所覆盖的检查从体积不断缩小的电子元件到密度日益提高的多层实装基板。 参考价面议 -
MIV-X超声波光学金属表面探伤仪
日本岛津超声波光学金属表面探伤仪
岛津的光学成像技术，将超声波振子和频闪观测器相结合，在试样表面使用超声波振荡器振动，表面因超声波传输受到的微小位移用激光照射和光学相机实现可视化，从而根据超声波的间断来检测出缺陷。超声波光学探伤装置MIV-X可以使传统超声检测难以发现的内部缺陷可视化。 参考价面议 -
SpectroTest斯派克电弧/火花移动式金属分析仪
SPECTROTEST是一种移动式电弧/火花光谱仪，适用于金属生产、加工和回收行业等众多应用。该移动式金属分析仪性能异常出色，尤其是在需要准确的金属分析时、在材料难以识别或需要测量大量样本时。 参考价￥400000 -
240FS AA安捷伦火焰原子吸收光谱仪
280FS AA 火焰原子吸收光谱仪将快速序列设计和 8 灯位设计相结合，具有优异的仪器性能和较低的运行成本。它具有全自动的氘灯背景校正功能。280FS AA 由我们备受称赞的基于 Windows 的工作表软件控制。通过多任务功能，用户可以在开始一个新的分析的同时，进行已测定结果的报告编辑和输出。通用型 Mark 7 雾化室包含标准的 O 形圈或用适用于所有有机溶剂的有机溶剂兼容 O 形圈代替。 参考价￥50000 -
240Z AA安捷伦石墨炉原子吸收光谱仪
240Z AA 石墨炉原子吸收光谱仪（最多 4 个固定灯位）以灵敏的 AC 调制塞曼技术为基础，已证实其拥有所有塞曼光谱仪中的检测限，并且具有高灵敏度、性能和操作简便性，同时它还拥有原子光谱业界的软件。该仪器使用 GTA 120 塞曼石墨管原子化器，具有石墨炉性能，由安捷伦备受赞誉的基于Windows系统的工作表软件控制。 参考价￥50000 -
贵金属元素分析仪
贵金属元素分析仪UX-6200本仪器专门针对贵金属测试，采用的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用*于的基本参数法，能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素。 参考价￥20000 -
惠州ROHS无卤环保检测仪
ROHS无卤环保检测仪高度智能化设计使操作更加简便，轻松成为测试专家。可根据测试情况，自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既保证了相关器件的寿命，避免了人为操作误差。 全自动高精度背景拟合、多元回归等解谱方法的应用，使复杂材质的检测更加准确、便捷。 特别预置的谱图对比功能，很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比，利于对数据变化材质的精确分析，进一步提高企业的风险应对水平。 参考价￥20000 -
ROHS检测光谱仪
ROHS检测光谱仪UX-220:配备进口的探测器，分辨率性能佳；X光管和电源经销款型，应对欧盟RoHS和无卤环保指令检验可以满足。 采用华唯RoHS8.0软件，α系数法软件和FP法软件的结合，开放式工作曲线的兼容；带有测试样品图片的报告、分级管理员模式、几秒钟判定材料是否发生变化等。 参考价￥20000 -
UX-720X射线荧光镀层测厚仪
X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720：Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 参考价￥20000 -
S500和伍超声扫描显微镜
和伍超声扫描显微镜
设备整机尺寸750mm（长）×700mm（宽）×1350mm（高）。安装方案基于空间占用最小化和维护/服务条件需要，保证在设备周围留有500mm的空间，可以方便工作人员进行操作、维护。 参考价￥300000 -
C400和伍超声探伤仪多功能显微镜
和伍超声探伤仪多功能显微镜
超声扫描显微镜（SAT）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可有效满足新能源、半导体、电力电子、热管理材料、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等行业需求。 参考价￥100000 -
S600和伍水浸超声扫描显微镜
和伍水浸超声扫描显微镜
超声扫描显微镜（SAT）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可有效满足新能源、半导体、电力电子、热管理材料、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等行业需求。 参考价￥300000