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Top Hat Electron Microscope Apertures
Conventional apertures can be partly transparent for X-rays causing a higher background level when using EDX analysis. The thicker top hat apertures require X-ray transparency.
顶帽电子显微镜孔径
当使用EDX分析时，常规孔对于X射线可以是部分透明的，从而导致更高的背景水平。 较厚的顶帽孔需要X射线透明度。
| Top Hat Apertures 3.04mm Base O.D., 2mm Hat O.D. x 1mm thick | |||
|---|---|---|---|
| LEO, Zeiss, Nanolab, Novascan | |||
| Platinum-Iridium （95:5） |
| Hole Dia. µm | Prod # |
|---|
| 20μm |
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| 30μm |
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| 50μm |
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| 70μm |
|
| 100μm |
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| 150μm |
|
| 200μm |
|
| 300μm |
|
| 500μm |
|
| 700μm |
|
| 1000μm |
|
Top Hat Electron Microscope Apertures
