全类型整流法导电型号测试仪是严格按照标准SEMI MF42-1105及国家标准GB/T1550中的全类型整流法设计生产。

    由于将三根测试探针做成测量探头，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。

    探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低飘移集成运算放大器放大后，用液晶显示器件直接指示型号。

 全类型整流法导电型号测试仪性能指标：

1.        可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05-1000Ω·cm。

2.        实际可测量硅材料电阻率范围：10^-2～10⁴Ω·cm。

3.        可测线度大于5mm的任意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制。

4.        显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号。

5.       探针采用耐磨的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整。

6.        外型尺寸：210 100 230（宽 高 深，单位mm）。

7.        重量：约3kg。

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