低温介电参数测量系统

低温介电参数测量系统

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具体成交价以合同协议为准
2016-01-29 07:14:01
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扬州市拓腾电气有限公司

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产品简介

低温介电参数测量系统可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。

详细介绍

低温介电参数测量系统

※-180℃--室温，精度0.1℃，升温速率：可选（典型值2℃/min）
※采用液氮或制冷机制冷
※自主设计多功能样品杆和标准杆，校准更简单，拆卸更方便
※自主设计热交换装置，加热和制冷极限温度更高
※采用开放式设计，扩展功能更容易
※真空辅助抽气置换系统，更便利的抽气置换操作
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