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DiaInspect-OSM粒子分析仪工作原理

时间:2021-10-13      阅读:1287

【冠远科技】DiaInspect-OSM粒子分析仪适用于微米到锯片粒度的各种粒度和金刚石。

粒子分析仪特点:

1、有参数直方图和参数组合散点图;

2、所有参数组合示意图;

3、2D和3D虚拟排序;

4、多聚焦功能的深聚焦图像;

5、孔隙度扫描模块;

6、曲面和3D三维扫描模式;

7、报告生成一键生成;

8、数据传输EXCEL结果表;

9、真实粒子、图像和被测参数交互连接;

工作原理:

DiaInspect-OSM粒子分析仪把颗粒分散到玻璃板上。当检查粒径为几微米的颗粒时,建议湿敷粉末。玻璃板通过XY台在扫描运动中移动。阵列大小将根据实际放大级别自动选择。图像采集部分从玻璃板的每个部分获取并分析连续图像,因此可以以高图像分辨率检测大量单个粒子。



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