北京中慧天诚科技有限公司

/高频光电导少子寿命测试仪

时间:2013-11-13阅读:397
分享:

高频光电导寿命测试仪/高频光电导少子寿命测试仪(学校用) 型号:KDKLT-1 货号:ZH8202
:
τ:10~6000μs,ρ>3Ω·cm ,配数字示波器;用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块体形严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质的重要检测项目。
设备组成
1.光脉冲发生装置:
重复频率>25次/s
脉    宽>60μs
光脉冲关断时间<1μs
红外光源波长:1.06~1.09μm(测量硅单晶)
脉冲电流:~20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.高频源:
频    率:30MHz低输出阻抗
输出功率>1W
放大器和检波器:
频率响应:2Hz~2MHz
3.配用示波器:
配用示波器:频带宽度不低于10MHz,Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
测量范围:
可测硅单晶的电阻率范围:ρ≥0.1Ω·㎝(欧姆·厘米)
寿命值的测量范围:5~6000μs(微秒)
 


 

会员登录

×

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

X
该信息已收藏!
标签:
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,化工仪器网对此不承担任何保证责任。

温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

拨打电话
在线留言