科电MCW-2000B涡流涂层测厚仪影响测量的若干因素

MCW-2000B（涡流）涂层测厚仪是的结晶，它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统/零点/两点校准，其性能达到当代同类仪器的*水平。

应用范围：

本仪器采用涡流测厚法，可以方便无损地测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层的厚度，或者是铝基体的阳极氧化膜的厚度等。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

技术参数：

1、测量范围：0~1200um

2、测量误差：<3%±1um

3、小示值：1um

4、显示方式：4位液晶数字显示

5、主要功能：

(1).测量：单探头全量程测厚

(2).存储、删除：可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。

(3).读：读出已存入的测量数据

(4).统计：设有三个统计量，平均值大值小值

(5).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准

(6).电量：具有欠压显示功能

(7).打印：可打印测量值，选配微型打印机

(8).关机：具有自动关机和手动关机两种方法

6、电源：两节1.5v电池

7、功耗：大功耗100mw

8、外形尽寸：124mm *50mm *24mm

9、重量：150g（含电池）

10、使用环境温度：0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%

11、基体小厚度：0.3mm

12、基体小平面的直径：7mm

13、小曲率半径：凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠电压指示：右上角显示＂＂

*临界厚度小：工件基体厚度大于1mm时，其涂层厚度的测量不受基体厚度影响。

影响测量的若干因素：

-基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

曲率

试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

-表面粗糙度

基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在

不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。

如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。

-附着物质

本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

-探头的放置

探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。

-试片的变形

探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现不太可靠的数据。

-读数次数

通常仪器的每次读数并不*相同。因此必须在每一测量面积内取几个测量值，覆盖层厚度的局部差异，也要求在给定的面积内进行测量，表面粗糙时更应如此。