韩国XRF-2000X射线膜厚仪精度及测量范围
时间：2017-06-26 阅读：2414
韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪检测范围及应用
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单一镀层测量 | Au/Ni , Zn/Fe , Cr/Al |
针对zui上层无法量测之元素 | Al/Fe |
zui上层的厚度极薄 | Au小于0.25um |
双层镀层测量 | Au/Ni/Cu , Ag/Ni/Cu |
多层测量(zui多5层) | Au/Ni/Cu/Epoxy |
SnXx合金 | SnPb/Cu , SnBi/Cu |
药水分析 | -- |
单层合金测量 | SnPb/Cu , ZnNi/Cu |
双层合金测量 | SnPb/Ni/Cu |
多层合金测量(zui多五层) | SnPb/Ni/Cu/Fe |
*层薄及第二层厚测量 | -- |
Au 0.03-4um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-20um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi 0.05-20um
SnCu 0.05-20um
设备功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系统
使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层
各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量
定点自动定位分析
光径对准全自动
影像重叠功能
自动显示测量参数
彩色区别测量数据
多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统
多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效
Micro XRF-2000 韩国先锋镀层测厚仪系列
测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
测量的厚度范围为0.03微米～35微米。
可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。
XRF-2000镀层测厚仪三款型号
不同型号各种功能相同
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000H型:测量样品高度不超过10cm (长宽55cm)
XRF-2000L型:测量样品高度不超过3cm （长宽55cm）
XRF-2000PCB型:测量样品高度不超3cm,PCB板