x射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。使用x射线镀层测厚仪的主要测量方法有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
 

　　x射线镀层测厚仪的工作原理：
 

　　x射线镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是直线关系；通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个接近实际对应关系的曲线。
 

　　x射线镀层测厚仪的特点：
 

　　1、一次可同时分析24个元素。
 

　　2、任意多个可选择的分析和识别模型。
 

　　3、相互独立的基体效应校正模型。
 

　　4、多变量非线性回收程序。
 

　　5、专业贵金属检测、镀层厚度检测。
 

　　6、针对不同样品可自动切换准直器。
 

　　7、智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
 

　　8、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。