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电镀层测厚仪韩国先锋X-RAY膜厚仪
通过CCD镜头
观察快速无损测试电镀层膜厚
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层
韩国Micro Pioneer
XRF-2020测厚仪
X射线荧光法无损镀层测厚仪
该技术已经被证实并且得到广泛应用，可以在无须样品破坏的情况下提供易于操作
快速和无损的分析。
XRF-2020两款型号并且具有不同大小的样品舱。
产品功能：
采用X射线荧光测量金属镀层、覆盖层厚度
镀层元素测量范围：钛～铀
包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、锌镍合金等。
测量镀层层数：多至5层。
XRF-2020标配：0.2mm准直器 测量样品位置直径大于0.4mm
测量时间：通常15秒。
XRF-2020H型 样品蕞大尺寸：550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
XRF-2020L型 样品蕞大尺寸：550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
测量误差：正负5%
可测厚度范围：通常0.03微米到35微米，视样品组成和镀层结构而定。
能同时定量测量5种镀层厚度。
探测器 高分辨气体正比计数探测器全自动X-Y-Z样品台
XRF-2020镀层测厚仪测试报告
测试报告内容：
测试产品的编号；
测试产品的准确标识；
测量日期
测试样品测量位置
报告的测量次数
测量产品大小值
平均值
标明准直器孔径和测量面积大小；
用于XRF-2020测厚仪
报告的测量值具有代表性的标准偏差；
与本标准方法的差别:
仪器全自动台面
自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测
方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。
可用于测量工件：PCB及五金工件、连接器端子接插件、半导体产品等各种金属镀层厚度。
测量时间只需要10-30秒即可获得测量结果
微先锋X射线电镀膜厚测试仪XRF测量原理：
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
电镀层测厚仪韩国先锋X-RAY膜厚仪
韩国微先锋电镀膜厚仪XRF-2020
