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SYPT-2平行平晶（千分尺计量建标专用）
一．产品简介：
SYPT-2平行平晶（检测千分尺计量建标专用）是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度。平行平晶用用于干涉法测量检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。
二．功能特点：
1.具有高精度的平面性和平行性。
2.采用A级光学玻璃，稳定性好，无色透明。
3.寿命长、不受环境温度影响。
三．技术指标：
每组平行平晶共四块，分四个尺寸系列组
测量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
测量面平行度误差： 组Ⅰ系列允差值：0.06μm
组Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
组Ⅳ系列允差值：0.1μm
四．平行平晶规格分类：
平行平晶共分四个系列，每组四块。
组Ⅰ | 平行平晶 | 0－25mm | 4块/组 |
组Ⅱ | 平行平晶 | 25－50mm | 4块/组 |
组Ⅲ | 平行平晶 | 50－75mm | 4块/组 |
组Ⅳ | 平行平晶 | 75－100mm | 4块/组 |
平行平晶尺寸系列表
组号 | 0－25 | 25－50 | 50－75 | 75－100 |
1 | 15.00，15.12 | 40.00，40.12 | 65.00，65.12 | 90.00，90.12 |
2 | 15.12，15.25 | 40.12，40.25 | 65.12，65.25 | 90.12，90.25 |
3 | 15.25，15.37 | 40.25，40.37 | 65.25，65.37 | 90.25，90.37 |
4 | 15.37，15.50 | 40.37，40.50 | 65.37，65.50 | 90.37，90.50 |
5 | 15.50，15.62 | 40.50，40.62 | 65.50，65.62 | 90.50，90.62 |
6 | 15.62，15.75 | 40.62，40.75 | 65.62，65.75 | 90.62，90.75 |
五．工作原理：
平晶是利用光波干涉现象测量平行度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法（图2）,也称技术光波干涉法。测量时,把平晶放在被测表面上,且与被测表面形成一个很小的楔角 θ，以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小,则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下，则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹平直，相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。其误差值为f= (v/ω)×(λ/2)
λ为光波波长，白光的平均波长为0.58μm,ν为干涉带弯曲量，ω为干涉带间距。
