GB/T 31838.3  固体绝缘材料  介电和电阻特性  第3部分：电阻特性（DC）方法 表面电阻和表面电阻率。

   GB/T 10006  塑料  薄膜和薄片  摩擦系数测定方法；

   GB/T 16578.2  塑料  薄膜和薄片  耐撕裂性能的测定  第2部分：埃莱门多夫（Elmendor）法；

   所需仪器精度如下：

   GB/T 25915.1-2010  洁净室及相关受控环境  第1部分：空气洁净度等级；

概述从薄膜卷上取样时，应至少先剥去最外3层薄膜，并按有关性能的要求制样。

   根据GB/T6672，用立式光学计或其他合适的测厚仪测量单张试样的厚度。

 结果GB/T 13542.6  电气绝缘用薄膜  第6部分：电气绝缘用聚酰亚胺薄膜；

   GB/T 10582  电气绝缘材料  测定因绝缘材料引起的电解腐蚀的试验方法；

   厚度应按GB/T 13542.3、GB/T 13542.4、GB/T13542.6以及其他有关产品标准的要求采用下列规定中的一种或几种方法进行测定。

预处理条件机械法

   GB/T 11026  （所有部分）  电气绝缘材料  耐热性；

   GB/T 31838.2  固体绝缘材料  介电和电阻特性  第2部分：电阻特性（DC）方法 体积电阻和体积电阻率；

   沿样品宽度方向切取三条约100mm宽的薄膜（当膜卷宽度小于400mm时，可适当多取几条），试样不应有皱折或其他缺陷。单层法叠层法

   按GB/T 451.3  对叠层厚度进行测量，与多片测量结果不同。薄膜叠层试样数量为四个，每个叠层试样由12层薄膜组成。其制备方法如下：从离膜卷的外表面约0.5mm厚处时切取，并沿薄膜样条的长度方向缠绕于洁净的样板（尺寸宜为：250mm×200mm，其中200mm为板的长度方向尺寸）。在测量之前去掉叠层的最外层和最内层（实际测量10层），再进行测量。厚度测量仪器

   GB/T 7196  用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法；

   GB/T 20631.2-2006  电气用压敏胶粘带  第2部：试验方法；

   GB/T 10580-2015  固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件；

   除非产品标准或本文件中个别试验另有规定外，制样前，样品薄膜卷应在23℃±2℃，相对湿度50%±5%的条件下至少放置24h。取好的试样应在该条件下处理1h。

   取测量值的中值作为试验结果，并报告最大值和最小值。

   GB/T 6673  塑料薄膜和薄片长度和宽度的测定；

   GB/T 13542.4  电气绝缘用薄膜  第4部分：聚酯薄膜；

 GB/T 6672  塑料薄膜和薄片厚度测定  机械测量法；

   GB/T 13542.3  电气绝缘用薄膜  第3部分：电容器用双轴定向聚丙烯薄膜；

   GB/T 22689  测定固体绝缘材料相对耐表面放电击穿能力的推荐试验方法；

   ——薄膜厚度<15μm时，精度不低于0.2μm；

测量 GB/T 19466.3  塑料  差示扫描量热法（DSC）  第3部分：熔融和结晶温度及热焓的测定；

   叠层试样测量厚度除以10，得到单层薄膜厚度，取其平均值作为试验结果，并报告最大值和最小值。

   千分尺：精度为1μm，直径为6mm的平面测帽，测量压力为6N~10N。

试验条件

   GB/T 20220-2006  塑料薄膜和薄片  样品平均厚度、卷平均厚度及单位质量面积的测定  称量法（称量厚度）；

   在试样上等距离共测量9点，试样宽不小于300mm，沿试样长方向两测量点间不少于50mm。对未切边的卷，测量点应离薄膜边缘50mm；对已切过的卷，测量点应离薄膜边缘2mm。试验一般说明

   薄膜厚度小于100μm时，用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm~50mm的球面测帽。测量压力为0.5N~1N。薄膜厚度≥100μm时，可用千分尺测量。

结果测量测量仪器

取样

   本文件没有需要界定的技术和定义。

   ——薄膜厚度≥15μm但<100μm时，精度不低于1μm；

概述——薄膜厚度≥100μm时，精度不低于2μm。

   给出两种方法，一种用单层法，另一种用叠层法。

   除非产品标准或本文件中个别试验另有规定，试验应在温度23℃±2℃、相对湿度50%±5%、环境洁净度≤10000级（按GB/T25915.1-2010中ISO7级要求，关注0.5μm粒径）的条件下进行。

   按GB/T6672的规定，用合适的平面或球面测帽的测厚仪，测量试样的厚度。

原理GB/T 16578.1  塑料  薄膜和薄片  耐撕裂性能的测定  第1部分：裤形撕裂法；