介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；

仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为。

仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

介电常数介质损耗测试仪多项技术：

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 

双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 

全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高、幅度的高稳定。 

计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 

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