一、实验简介

      焦距是光学系统的基本参数，工程上焦距测量普遍使用光电法经行测量。RealLight^?设计开发的焦距测量仪测试方法与工程相同，开放式系统便于知识点讲授与学识实验操作。光学系统像质评价工程上主要采用分辨率直读法和调制传递函数（MTF）测量法。分辨率直读法测量多用于大像差系统，实验简便直观；MTF测量法适用于高分辨率的光学系统。本产品适合光电专业本科生教学实验，高职院校实训设备，亦可作为工厂生产检测设备使用。

二、实验内容

      1、正透镜焦距测量；

      2、负透镜焦距测量；

      3、分辨率板直读法测量光学系统分辨率实验；

      4、基于线扩散函数测量光学系统MTF值实验。

三、仪器配置与技术参数

      1、焦距测量范围：±5mm～±150mm。

      2、系统测试精度：±2%。

      3、平行光管组件：

            光源：白光LED，P>1W，亮度连续可调；

            平行光管：D／F=1:8,L=550mm，φ50mm，f=400mm；

            线目标物：线宽度30／75μm，精度1μm。

      4、机械组件：

            精密光学导轨：L×W=1200mm×90mm，配套滑块、一维平移滑块、调节支座、支杆；

            自定心透镜架：Φ6mm～Φ40mm，稳定性<2′。

      5、光学组件

            分辨率测量目标板：美军标准USAF1951标准图案，

            分辨率1～228C／mm，精度1μm；

            待测透镜：Φ25.4mm，f=-50mm～100mm，随系统配送3块。

      6、探测器组件：

           数字CMOS相机：130万像素，像素大小5.2μm×5.2μm，USA2.0，

      A／D：10bit。

      7、软件组件：

             图像采集图像计算模块，焦距测量模块，传递函数测量模块，USB2.0软件锁。