2017年10月9日，泽泉科技合作伙伴——美国Phenotype Screening Corporation (PSC)公司凭借优异的实验室测试服务荣获美国2017年诺克斯维尔*企业奖（Knoxville Awards）。该奖项关注即使在经济困难时期仍可通过采取市场策略提升收益的小型企业。奖项由诺克斯维尔奖评审委员会在Knoxville地区内及周边区域挑选zui的企业产生，每年评选一次。

美国PSC公司由Dan McDonald 和Ron Michaels于2004年共同创立，公司成功的将X射线技术应用于非破坏性、高分辨率对植物根系发育过程进行成像研究，推出了X-射线植物根系扫描成像分析系统RootViz FS。该套系统是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、率、高精度、非破坏性的测量系统，植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后zui激动人心的发明。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应，zui大可对株高2.0 m，根系深达1.0 m的植株进行分析。以此产品和技术为核心，PSC公司拓展了与植物研究相关的测试服务，包括如茎干、果实等其他器官组织，昆虫、线虫害虫的成像和特征分析，植物生长促进剂和胁迫对植物根系发育影响的对比研究等。