四探针电阻率测试仪是一种测量半导体材料的电阻率的仪器。电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多，四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便，精确度高，对样品的形状无严格要求。

 

FT-361超低阻双电四探针测试仪为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，可以测试到1uΩ方阻值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。

 

使用注意事项：

 

1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作；

2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量；

3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象；

4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针。