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超高阻双电四探针测试仪仪器配置

时间:2015-12-24      阅读:2055

   四探针电阻率又名方阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗四探针电阻率方阻测试仪单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。

 

  超高阻双电四探针测试仪是宁波江北瑞柯伟业仪器有限公司研发的产品,目前已被多家企业咨询,预定,购买。超高阻双电四探针测试仪又是一种针对于产品性能测试的仪器,这款仪器不但实用性强,而且*,瑞柯仪器一直在研发新品,如果你对我们的仪器感兴趣,欢迎。

 

超高阻双电四探针测试仪为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率,zui大可以测试到1010Ω方阻值,是目前同行业中能测量到的zui大方阻值,本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

 

超高阻双电四探针测试仪仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

 

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