概述　　

　　X荧光光谱仪是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的原系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到水平的分析仪器。它采用波长色散X射线荧光分析技术（WDXRF），多道同时测量从Na到U的任意十种元素，对大多数元素分析的含量可低至ppm高至*。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。

　　X荧光光谱仪关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，由此使本光谱仪具有的精度和准确度，达到水平。本光谱仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。

　　X荧光光谱仪应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。由于该款仪器是为水泥行业专门开发的，*标准GB/T176-2008《水泥化学分析方法》和建材行业推荐标准JC/T1085-2008《水泥用X射线荧光分析仪》，其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的几分之一，具有*的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。

主要技术指标

1.分析元素或其氧化物种类:从Na到U的任意十种元素及其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO，

　Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。

2.分析范围宽度：“控制目标值±2.5%”的范围内，由所标定的曲线决定。

3.系统分析时间：典型值：180秒。

4.精密度：谱线强度的变异系数：εSiO2＜0.40%，εSO3＜2.0%，εCaO＜0.15%。

5.稳定性：谱线强度的极差：RSiO2＜1.5%，RSO3＜5.0%，RCaO＜0.5%。

6.线性：含量的误差：ENa2O＜0.035%，EMgO＜0.10%，EAl2O3＜0.14%，

　　　　　　　　　　ESiO2＜0.14%，ESO3＜0.10%，ETiO2＜0.035%，

　　　　　　　　　　EK2O＜0.07%，ECaO＜0.18%，EFe2O3＜0.10%。

7.X射线管功率：400W（zui高50KV，zui大8mA）。

8.恒温室温度：36℃±0.1℃。

9.使用条件：环境温度：15~+28℃，相对湿度：≤75%（25℃），电源：220V±20V，50Hz。

10.整机功耗：<50W。

11.尺寸及重量：长×宽×高：790mm×760mm×1200mm，重量：195kg。

水泥国家标准样品测量结果