芯片测试冷热冲击实验箱的操作步骤

冷热冲击测试箱在使用过程中要多了解操作流程，芯片测试冷热冲击实验箱可分为预处理、初使检测、实验、恢复、最后检测五大步骤，下面具体来看下它的操作全流程。

1.预处理：将被测样 品放置工作室中，让它在正常的试验直至达到温度稳定。

2.初始检测：将被测样品与标准要求对照符合要求后直接放入箱内即可。

3.试验：

①试验样品应按标准要求放置在试验箱内，并将试验箱内温度升到规定点保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。

②高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55°C的低温试验，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，同样以时间长度为准。

③低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70°C的高温试验，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定也是以时间长都为准。

④重复上述实验方法，以完成三个循环周期。

4.恢复将测试品从试验箱内取出后，让它在正常的环境中进行恢复直至它达到标准温度。

5.最后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。