Bruker 纳米压痕仪： Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套新系统搭载 Bruker 的电容传感技术，继承了商业化原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。

特点

可互换传感技术，实现了更大范围(10mNx500 mN、3.5N和150μ.m)的原位纳米力学测试和微尺度力学测试

载荷和位移控制测试模式,可进行纳米压痕、压缩、 拉伸、疲劳或弯曲测试

采用新编码样品台技术(1 nm分辨率)，可以在纳米晶粒 内部进行压痕操作

提供旋转/倾斜台两种配置，从而在进行纳米力学测试、二次电子成像、原位FIB加工和分析成像等操作时，样品定位能力进一步提高

采用不过时的模块化设计,原位测试相关技术得以不断升级，包括800℃加热、划痕测试、电特性、扫描探针显微镜 (SPM)成像、力学性能成像(XPM)及动态疲劳测试等技术

配备PerformechII先进控制模块，反馈频率达到78 kHz, 数据采集频率达到39 kHz,可以捕捉断裂引发等瞬时事件

功能齐全

Hysitron PI 89可以轻松安装到扫描电子显微镜台上,不需 要一直固定在显微镜上。其设计小巧，大幅增加物台倾斜 度、缩短工作距离,确保测试期间实现佳成像。

PI89平台经过改装，在系统的样品位置增加了一个滑移台。该设计可方便快速地调整样品相对于传感器的位置,并可配置可更换压头、样品和其它附加装置。

同时扩大了可用空间，可以容纳更大的样品、附加样品台和新的配件。

此外,选用新的直线编码样品台,可以提高自动运动中的 重复性，同时扩大行程范围。通过重新设计机械载荷架轴，提升了框架刚度。