SP-BS-1908 型杂质黑点检测仪

SUNPLUS 黑点检测仪的用途

按相关国家标准分析树脂片或颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比数。

适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。

也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。

SUNPLUS 黑点检测仪的技术指标

1. 测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。

2. 最小检测目标： 0.1mm

3. 检测精度： 小于0.035mm

4. 检测面积：不小于200×200mm

5. 器皿大小：200mm×200mm 净面积，用于颗粒黑点检测。

6. 放大倍数：>20 倍

7. 光密度:不小于6000 流明

8. 光源要求: 24V/60W

9. 供电电源：220V,50HZ

10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)

仪器功能特点

1. 测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。 SP-BS-1908 型 黑点检测仪

2. 可提供黑点、损坏颗粒，以及膜片质地纹路的分布图谱。

3. 黑点或膜片质地分布可放大和缩小。

4. 被测目标可分类计数和统计。

5. 按适用的标准自动生成检测报告。

6. 报告和图谱可打印可储存。

7. 进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。

8. 颗粒以透明器皿为载体，批次检测。

9. 透明薄膜直接平铺在检测平台上进行检测，无需对薄膜作黑化或贴纸处理。

仪器的配置

☆ SP-BS-1908M 杂质黑点检测仪

☆ 标准板

☆ 透明器皿 (测颗粒用)

☆电脑工作站

☆ 应用软件